GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
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时间:2024-05-07 02:27:11
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基本信息
标准名称: | 半导体探测器X射线能谱仪通则 |
英文名称: | Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors |
中标分类: | 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 电子光学与其他物理光学仪器 |
ICS分类: | 化工技术 >> 分析化学 >> 有关化学分析方 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2006-12-25 |
实施日期: | 2007-08-01 |
首发日期: | 2006-12-25 |
作废日期: | |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
提出单位: | 全国微束分析标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国微束分析标准化技术委员会 |
起草单位: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
起草人: | 曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2007-08-01 |
页数: | 平装16开 页数:11, 字数:14千字 |
计划单号: | 20030762-T-469 |
适用范围
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。
前言
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引用标准
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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 电子光学与其他物理光学仪器 化工技术 分析化学 有关化学分析方
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